XRF（蛍光X線）分析

XRF（蛍光X線）分析
ー X – ray fluorescence analysis ー

原理

X線照射により、試料中の原子の内殻軌道の電子が外にたたき出され、その空位に外殻軌道から電子が遷移する。このときに発生する固有のX線（蛍光X線）の波長から定性分析、その強度から定量分析ができる。

特徴

所有のXRF分析装置

・試料を破壊せずに、微量から多量まで迅速に数種類の元素を定性、定量分析ができます。
・試料は固体でも液体でも測定できます。
・EDS型（エネルギー分散型）XRFを所有しており、Na（ナトリウム）～ U（ウラン）の分析が可能です。
・薄膜試料についても対応いたします。（条件により、不可の場合があります。お問い合わせ願います。）
・RoHS分析スクリーニングにも最適です。

分析事例 （RoHS分析スクリーニング）

非破壊・短時間でRoHS分析のスクリーニング（対象元素Cd,Pb,Hg,Cr,Br）を実施。

 


表1. 分析結果

分析項目  単位    分析結果  
※1		    定量下限  
※2		     RoHS規格  
（参考）
Cd（カドミウム）       μg/g = ppm   951.0 20 100
Pb（鉛） μg/g = ppm 810.1 20 1,000
Hg（水銀） μg/g = ppm N.D. 20 1,000
Cr（クロム） μg/g = ppm 1,234 20 1,000
Br（臭素） μg/g = ppm 1,123 20 1,000
※1 分析結果は本サンプルだけに関するものです。（分析結果：N.D. = 定量下限未満）
※2  定量下限は参考値です。

対象元素（Cd,Pb,Hg,Cr,Br）が検出された場合、各社基準に従って詳細分析を実施するかどうかの判断材料とする。
分析事例 （接着剤中の塩素分析）

環境に悪影響を与えるハロゲンに注目が集まっており、塩素の管理のため、接着剤中の塩素分析を実施。

 




表2. 分析結果

分析項目 単位    分析結果   
※1		    定量下限   
※2
Cl（塩素）                 μg/g = ppm  251.0 50
※1 分析結果は本サンプルだけに関するものです。（分析結果：N.D. = 定量下限未満）
※2  定量下限は参考値です。